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近年來，由于脈沖激光技術(shù)的發(fā)展日趨成熟，脈沖激光沉積（PLD）在薄膜制備領(lǐng)域的應(yīng)用已經(jīng)成為研究的熱點(diǎn)。由于脈沖激光具有高能量峰值以及短脈寬，燒蝕靶材時(shí)會(huì)濺射出大量復(fù)雜的微納粒子形成等離子體，等離子體在真空或背景氣體中經(jīng)過定向膨脹后到達(dá)基底，在基底上形成產(chǎn)物，因此利用PLD技術(shù)可以在基底上沉積特定成分和微納結(jié)構(gòu)的薄膜。脈沖激光沉積技術(shù)能夠制備類型廣泛且性能優(yōu)異的功能薄膜，因此目前被廣泛地應(yīng)用到光電、新能源、生物、超導(dǎo)、電子封裝、催化、傳感等領(lǐng)域。1、光電領(lǐng)域近年來，PLD制備二...

當(dāng)磁控濺射鍍膜機(jī)出現(xiàn)故障后應(yīng)先要向使用者了解故障的現(xiàn)象，之后要親自開機(jī)觀察故障，這樣才能更準(zhǔn)確、更快、更合理地排除故障。排除故障應(yīng)先檢測低真空是否正常（機(jī)械泵、羅茨泵、管道、下室、蒸發(fā)室），低真空正常后再開主泵，主泵正常后檢測下室真空中是否正常，下室真空正常再開高閥進(jìn)行高真空檢測檢漏，直至達(dá)到真空，極限真空、保真空、恢復(fù)真空，如極限真空和保真空正常，而恢復(fù)真空和真空不正常則可能主泵有問題。今天給大家列舉一些磁控濺射鍍膜機(jī)使用過程中常見的故障和解決方法，希望能幫助大家！一、當(dāng)正...

一、超聲波風(fēng)速計(jì)概述超聲波風(fēng)速儀最早于1950年代被開發(fā)出來它的原理是測量超聲波脈沖在兩個(gè)探頭之間傳播的時(shí)間來計(jì)算空氣移動(dòng)的速度，也就是風(fēng)速。當(dāng)空氣移動(dòng)時(shí)，超聲波在兩個(gè)探頭之間的時(shí)間會(huì)變長或變短。超聲波在空氣里就像水里的魚，水的流動(dòng)方向，順流而下或逆流而上，會(huì)影響魚行進(jìn)的速度。二、超聲波風(fēng)速計(jì)特點(diǎn)1.沒有旋轉(zhuǎn)或移動(dòng)的部件，易于安裝，結(jié)構(gòu)堅(jiān)固，幾乎不需要維護(hù)。2.采樣頻率高，測量數(shù)據(jù)準(zhǔn)確，可以測量3D風(fēng)速數(shù)據(jù)，完整地描述測量點(diǎn)的風(fēng)速湍流。3.測風(fēng)范圍廣。

快速化學(xué)淬滅系統(tǒng)是多路混合停流裝置，淬滅裝置，快速混合溫度突變等裝置系統(tǒng)，產(chǎn)品設(shè)計(jì)解決您快速動(dòng)力學(xué)應(yīng)用中的需要，自動(dòng)濃度依賴性實(shí)驗(yàn)研究以及兩路混合實(shí)驗(yàn)研究，標(biāo)準(zhǔn)停流配置適用所有光學(xué)模式：吸收，熒光，圓二色，熒光各向異性光譜等測定。比色池多樣性，可擴(kuò)展溫度適用范圍，可更換SFM附件，應(yīng)用于：化學(xué)淬滅，光學(xué)淬滅以及光學(xué)延時(shí)，冷凍淬滅，X-射線散射停流，中子色散停流，EPR停流，低溫停流，自動(dòng)滴定，停流電導(dǎo)，快速混合溫度突變系統(tǒng)，微重力實(shí)驗(yàn)研究等。因?yàn)橛械幕瘜W(xué)反應(yīng)某一反應(yīng)物是過量的...

球磨測厚儀適用于測定涂在平整試板上的濕膜厚度，但在現(xiàn)場或工廠也可以用于只向一個(gè)方向彎曲的工件表面，只要底材在兩同心輪間不彎曲變形以至影響儀器的測定即可。當(dāng)結(jié)果評(píng)定時(shí)，使用每個(gè)標(biāo)度的線性中心區(qū)段，即使用標(biāo)度總量程的80%左右的區(qū)段，精度高。主要用于測定涂漆表面濕膜的厚度并可大致估計(jì)膜干時(shí)的大致厚度，該儀器既可用在實(shí)驗(yàn)室又可用于生產(chǎn)控制。主要用于測量色漆、清漆等各種涂料在施工時(shí)涂層厚度的工具。各種涂料施工后，立即將濕膜測厚儀穩(wěn)定垂直地放在平整的工件涂層表面，即可測得涂層厚度。球磨...

深能級(jí)瞬態(tài)譜儀是半導(dǎo)體領(lǐng)域研究和檢測半導(dǎo)體雜質(zhì)、缺陷深能級(jí)、界面態(tài)等的重要技術(shù)手段！測試功能：電容模式、定電容模式、電流模式、（雙關(guān)聯(lián)模式）、光激發(fā)模式、FET分析、MOS分析、等溫瞬態(tài)譜、Trapprofiling、俘獲截面測量、I/V,I/V(T)、C/V,C/V(T)、TSC/TSCAP、光子誘導(dǎo)瞬態(tài)譜、DLOS。測試根據(jù)半導(dǎo)體P-N結(jié)、金-半接觸結(jié)構(gòu)肖特基結(jié)的瞬態(tài)電容（△C~t）技術(shù)和深能級(jí)瞬態(tài)譜的發(fā)射率窗技術(shù)測量出的深能級(jí)瞬態(tài)譜，是一種具有很高檢測靈敏度的實(shí)驗(yàn)方法，...